TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱

       Trio-Tech 是 HAST 测试领域的技术和市场，拥有技术的 HAST 系统，提供更方便、更安全的交钥匙解决方案，包括系统、机架、培训和测试服务，在有 600 多个安装点。
HAST-1000X、HAST-6000X 和 HAST-9000X 加压湿度测试系统为塑料封装集成电路
和其他微电子器件的传统湿热 85/85 温度和湿度测试提供了一种快速、经济的替代方法。
据半导体行业的技术计算，HAST 测试比传统测试方法快 10-40 倍。这种高度加速的 测试能更快地对日益复杂的微电子产品进行表征、评估和鉴定。

TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱设备性能：
▶HAST、AUTOCLAVE、85/85 测试
可根据要求进行
▶ 测试容量大
测试容量范围为 64 - 380 升（其他尺寸可根据要求提供）
▶ 触摸屏控制器
便于操作的触摸屏操作
▶ 灵活的偏导线配置
广泛的应用和实验
▶ 4 ATM 系统
在 85% 相对湿度条件下提供 150ºC 的温度
▶ 4 个数字输出
触发外部电源开/关
▶ 电源控制
允许通过可变通信类型对外部电源进行编程/触发

TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱 产品特点：
1， 的 HAST 系统采用了双容器系统设计，带有的圆周加热系统，可提供均匀的温度和湿度控制（+/- 2°Χ, +/- 5% RH），并消除被测设备上的冷凝现象。 这就确保了测试数据的可靠性。
2，我们的所有 HAST 系统均符合 ASME 4 ATM 的额定值，可在 85% 相对湿 度下进行高温测试。85% 相对湿度下的温度为1 5 0 ° C .许多工艺都需要高温 HAST测试，而这是可以实现的。
3，非笔６该模式可对温度、湿度、测试时间、斜坡上升、电源循环和斜坡下降进行多步骤编程。该模式还提供自动启动电源验证、校准和 PID 值调整功能。数据 保存周期 - 1 秒。硬盘 CF 内存。 Hast 系统采用触摸屏计算机系统，可对所有腔室参数和电源进行简单控制。有两种编程模式可供选择。
 
4，计算机显示器上可显示测试条件图表 。所有测试参数和最多四个电源的数据记录都可直接导入标准 USB 端口或局域网连接的服务器进行存储或传输到远程 PC。
5，有多种类型和数量的偏置导线可用于不同的 ,应用，如测试板监控、动态测试和泄漏电阻测试。可选配快速断开偏置线连接器，便于拆卸测试架进行清洁和维护。

7，该选项允许在每次测试后将 N2 吹扫到系统中。这将减少系统的斜坡下降时间，从而防止测试设备出现 "烘烤效应"。
8，该选项允许在每次测试开始前将 N2 吹扫到系统中。这将清除系统中的空气，防止蒸汽在升温过程中积聚在测试设备上。

TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱  规格：

TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱 性能参数表：

 
参考标准：

TRIO-TECH HAST双舱高加速老化试验箱 安全功能：
压力：.紧急超压安全阀、自动试验室超压吹扫、超压警报和加热器自动切断。
温度 ：腔体过热传感器、圆周加热器和腔体加热器、蒸汽泄漏、低水位切断 .
电气： 熔丝控制面板、系统和加热器断路器、接地系统 检测供水故障、不门锁漏电断路器、温度传感器断开保护器。
系统还配有一个外部报警终端，带有报警蜂鸣器和指示灯。出现问题时，蜂鸣器会发出声音，附近的人会立即收到警报。
该系统采用手动或自动门锁机制选项，并在此基础上运行。这可以防止在试验室加压时
打开门。